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Grin Verlag

Charakterisierung und Parameterabh?gigkeit komplexer Muster in einer Einspiegelanordnung

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Product Code: 9783640182329
ISBN13: 9783640182329
Condition: New
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Charakterisierung und Parameterabh?gigkeit komplexer Muster in einer Einspiegelanordnung

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Diplomarbeit aus dem Jahr 2001 im Fachbereich Physik - Optik, Note: 1,7, Westf?lische Wilhelms-Universit?t M?nster, Sprache: Deutsch, Abstract: Seit einigen Jahren ist ein wachsendes Interesse an Strukturbildungsprozessen zu beobachten. Dabei ist es eine weitverbreitete Beobachtung, dass der homogene Gleichgewichtszustand instabil wird, wenn das System durch ?nderung eines Stressparameters weit genug aus dem thermodynamischen Gleichgewicht getrieben wird. Typischerweise bilden sich an der Schwelle zun?chst einfach periodische Muster (Streifen, Quadrate, Hexagone). Viele ihrer Eigenschaften sind unabh?ngig von dem spezifischen musterbildenden System, in dem sie auftreten. Bei einer weiteren Erh?hung des Stressparameters kommt es oft zu sekund?ren Bifurkationen oder Sequenzen von Bifurkationen, in denen das Systemverhalten zunehmend komplexer wird. Vieluntersuchte M?glichkeiten sind das Auftreten von Defektstrukturen und regul?ren oder irregul?ren Zeitabh?ngigkeiten. In den letzten Jahren wurde klar, dass es auch andere M?glichkeiten zur Erzeugung von station?ren Zust?nden h?herer Komplexit?t gibt, in denen eine hohe Regularit?t ?ber das Grundgebiet erhalten bleibt. ?berstrukturen oder Supergitter, welche sich aus einfacheren Gittern zusammensetzen lassen, wurden in hydrodynamischen Experimenten gefunden. Theoretische Beschreibungen sind erst in den Anf?ngen. ?berstrukturen wurden vor kurzem in unserer Arbeitsgruppe in einem musterbildenden optischen System beobachtet. Es handelt sich um eine experimentelle Realisierung einer so genannten Einspiegelanordnung, die ein wichtiges Modellsystem zur Untersuchung von Musterbildung in der nichtlinearen Optik ist. Sie besteht aus einem nichtlinearen Medium und einem Spiegel, der einen Teil des durch das Medium transmittierten Lichts in dasselbe zur?ckkoppelt. Die Muster werden als r?umliche Strukturen in der Ebene transversal zur Ausbreitungsrichtung beobachtet, d.h. das Lichtfeld wird senkrecht zur Ausbreitungsrichtung aufgr


Author: Daniel Rudolph
Publisher: Grin Verlag
Publication Date: Oct 17, 2008
Number of Pages: 108 pages
Binding: Paperback or Softback
ISBN-10: 3640182324
ISBN-13: 9783640182329
 

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