Oberflächenanalytische Charakterisierung Von Metallischen Verunreinigungen Und Oxiden Auf GAAS
$56.30
(You save)
Write a Review
Deutscher Universitatsverlag
Oberflächenanalytische Charakterisierung Von Metallischen Verunreinigungen Und Oxiden Auf GAAS
Der Autor entwickelt ein Verfahren zum quantitativen Nachweis von metallischen Spurenelementen, das es m?glich macht, Oberfl?chenbelegungen auf GaAs mit sehr geringen Konzentrationen quantitativ nachzuweisen.