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Konstruktion, Bau und Charakterisierung eines Magnet-Proben-Halters für das Elektronen-Mikroskop

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Product Code: 9783838649504
ISBN13: 9783838649504
Condition: New
$80.50
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Konstruktion, Bau und Charakterisierung eines Magnet-Proben-Halters für das Elektronen-Mikroskop

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Inhaltsangabe: Einleitung: Die Lorentzmikroskopie stellt ein m?chtiges Instrument in der Untersuchung magnetischer Strukturen im Transmissionselektronenmikroskop (TEM) dar. Um Reaktionen magnetischer Nano-Partikel auf externe Felder (Schaltvorg?nge) in-situ beobachten zu k?nnen, wurde im Rahmen dieser Arbeit ein Spezial-Probenhalter entwickelt. Mit dessen Hilfe k?nnen Proben w?hrend der Beobachtung reinen in-plane Magnetfeldern im TEM unterzogen werden und so direkte Reaktionen beobachtet werden. Gang der Untersuchung: In der Arbeit wird zuerst eine Einf?hrung ?ber die Funktionsweise eines Elektronenmikroskops gegeben. Anschlie end folgt ein kurzer Ausblick auf die relevante Theorie des Magnetismus. Im zweiten Kapitel wird eine herk?mmliche Methode zur Erzeugung von Magnetfeldern im TEM charakterisiert. Danach folgt die Beschreibung von der Herstellung und Charakterisierung des neuen Probenhalters. Zum Schlu sind noch erste interessante Experimente erl?utert, die die M?glichkeiten des neuen Halters eindrucksvoll pr?sentieren. Inhaltsverzeichnis: Inhaltsverzeichnis: Problemstellung7 1.Allgemeine theoretische Grundlagen11 1.1Elektronenoptik11 1.1.1Strahlerzeugung11 1.1.2Strahlengang12 1.1.3Lorentzmikroskopie15 1.1.4Linsenfehler18 1.1.5Stigmatoren23 1.2Magnetismus von Permalloy-Nanoteilchen23 1.2.1Energie-Betrachtungen23 1.2.2Formanisotropie und Stoner-Wohlfarth-Theorie25 1.2.3Dom?nen29 1.2.4Hysterese31 2.Kippmethode33 2.1Vermessung der magnetischen Felder im Mikroskop33 2.1.1Kalibrierung des Hallsensors34 2.1.2Messung der Objektivlinsenfelder35 3.Konstruktion und Bau des Probenhalters39 3.1Vor?berlegungen39 3.2Konstruktion und Entwicklung40 3.3Herstellung41 4.Charakterisierung des neuen Halters45 4.1Feldmessung45 4.1.1Kalibrierung des Hallsensors45 4.1.2Feldmessung im Probenbereich46 4.1.3Feldabh?ngigkeit in Strahlrichtung49 4.2Feldsimulation50 4.3Halterbetrieb52 4.3.1Steuerprogramm53 4.3.2Bildr?ckf?hrung im Betrieb53 5.Erste Experimente59 5.1Schalten von Dreiecken59


Author: Stephan Otto
Publisher: Diplom.de
Publication Date: Jan 22, 2002
Number of Pages: 86 pages
Binding: Paperback or Softback
ISBN-10: 3838649508
ISBN-13: 9783838649504
 

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