Vermessung von Kristallstrukturen mit Methoden der Bildverarbeitung und Statistik

Diplomarbeit aus dem Jahr 1999 im Fachbereich Informatik - Technische Informatik, Note: 1, Rheinische Friedrich-Wilhelms-Universit?t Bonn, Sprache: Deutsch, Abstract: Methoden der Bildverarbeitung werden in der Materialforschung benutzt, um Verzerrungen atomarer Gr? enordnung vorwiegend in kristallinen Halbleiterheterostrukturen lokal quantitativ zu erfassen. Damit lassen sich andere Gr? en wie lokale Gitterkonstanten und lokale Konzentrationen errechnen und R?ckschl?sse auf Wachstumseigenschaften ziehen. Diese Informationen werden ben?tigt, um bestimmte Eigenschaften der Heterostrukturen zu verbessern, die die Grundlage elektronischer und optoelektronischer Bauelemente wie hochintegrierter Mikrochips, Halbleiterlaser und Leuchtdioden sind.

Author: Olaf Schmidt

Publisher: Examicus Verlag

Publication Date: Jan 18, 2013

Number of Pages: 96 pages

Binding: Paperback or Softback

ISBN-10: 3867461945

ISBN-13: 9783867461948