Untersuchungen zur Weiterentwicklung von optischen Partikelmessgeräten

Diplomarbeit aus dem Jahr 2001 im Fachbereich Umweltwissenschaften, Note: 1.3, Bergische Universit?t Wuppertal, Sprache: Deutsch, Abstract: Zur Charakterisierung, Qualit?ts?berpr?fung, Produktionssteuerung und Optimierung einer vielzahl industrieller G?ter und Prozesse ist die Kenntnis von Partikelgr? e und Partikelform von entscheidender Bedeutung. Diese Eigenschaften beeinflussen in hohem Ma e das Verhalten eines Feststoffes. Schon beim Gewinnungsprozess muss eine bestimmte Partikelgr? e erreicht werden, um eine reibungslose Weiterverarbeitung und die angestrebten Qualit?tsmerkmale des Endproduktes zu erzielen. Aufgrund wachsender Qualit?tsanforderungen m?ssen diese Merkmale von Sch?ttg?tern immer h?ufiger, reproduzierbarer und quantitativ exakter ermittelt werden. Dabei st? t die traditionelle Siebanalyse wegen ihres hohen Zeitaufwandes und ihres geringen Aufl?sungsverm?gens zunehmend an ihre Grenzen. Zudem beinhaltet sie Nachteile, wie z.B. die Ungenauigkeiten der Siebmaschenweiten, die aufwendige Reinigung und den Ersatz besch?digter Siebe. Daher werden Siebanalysen immer h?ufiger durch optische Messverfahren ersetzt. Thema dieser Arbeit ist die Untersuchung und Weiterentwicklung eines optischen Partikelmessger?tes, des Camsizer, dessen Messprinzip auf der Technik der digitalen Bildverarbeitung beruht. Die Siebanalyse ist traditionell immer noch die h?ufigste Methode der Partikelgr? encharakterisierung der Anwender. Um diesen das Umsteigen auf neuere Verfahren zu erleichtern, wird angestrebt, die Messergebnisse von Siebanalyse und optischen Verfahren vergleichbar zu gestalten. Deswegen wird das neue optische Verfahren der M?glichkeit der Partikelcharakterisierung mittels Siebanalyse kritisch gegen?bergestellt, wobei auch die M?glichkeit einer Siebungssimulation mit digitaler Bildverarbeitung er?rtert wird. Ein weiteres Thema dieser Untersuchung ist das Entwickeln einer neuen Software-Edition, die die M?glichkeiten der Korngr? en- und Kornformanalyse nach Kun

Author: Christian Scholl

Publisher: Examicus Verlag

Publication Date: Sep 03, 2012

Number of Pages: 88 pages

Binding: Paperback or Softback

ISBN-10: 3867466564

ISBN-13: 9783867466561