La Diffraction Coh?ente Des Rayons X

La diffraction coh?rente des rayons X est une technique relativement r?cente, qui permet de r?aliser des mesures de dynamique de fluctuations dans la mati?re dure ou molle, ou de reconstruire les configurations de l'espace r?el ? l'aide d'algorithmes bas?s sur des calculs de transform?e de Fourier. Nous montrons ici que cette technique peut ?tre appliqu?e ? l'?tude de d?fauts de phase isol?s tels que des dislocations et que ceux-ci peuvent ?tre reconstruits sans algorithme. Il appara?t que la technique peut en principe surpasser en r?solution la topograhie X, technique de choix pour les ?tudes de volume. Des boucles de dislocation du silicium ont ainsi ?t? imag?es. Nous montrons ?galement que de r?elles conclusions physiques peuvent ?tre tir?es, ? travers l'?tude de d?fauts de phase de structures ?lectroniques dans des syst?mes d?veloppant des ondes de densit? de charge et de spin. Le chrome, le bronze bleu de molybd?ne K0.3MoO3 et NbSe3 font partie des syst?mes ?tudi?s dans ce travail. Un certain nombre de questions li?es ? la structure statique et dynamique de ces cristaux ?lectroniques sont soulev?es, et des mod?les th?oriques sont propos?s.

Author: Jacques-V

Publisher: Omniscriptum

Publication Date: Feb 28, 2018

Number of Pages: 272 pages

Binding: Paperback or Softback

ISBN-10: 6131509239

ISBN-13: 9786131509230