Microscopie ?Force Atomique Dynamique

Depuis la premi?re image en r?solution atomique par microscopie ? force atomique (AFM), les avanc?es de cette technique de champ proche permettent aujourd'hui de manipuler des atomes ? temp?rature ambiante sur des surfaces conductrices ou isolantes. La compr?hension du fonctionnement de cette machine complexe et l'optimisation des r?glages des nombreux asservissements est un des objectifs de cet ouvrage. A cette fin, un formalisme analytique provenant des m?thodes de l'Automatique non-lin?aire sera introduit pour traiter de fa?on intuitive les blocs de r?gulation de la machine mais aussi pour traiter l'interaction pointe-surface comme une fonction de transfert. Puis, le r?le capital de la pointe et sa caract?risation seront trait?s ? travers une m?thode exp?rimentale simple et originale. Cette m?thode se base sur l'?tude des changements non-lin?aires des propri?t?s de r?sonance de la sonde. Les forces conservatives ?lectrostatiques et van der Waals seront quantifi?es. Les forces chimiques seront mises en ?vidence en mesurant la dissipation de la sonde interagissant avec la surface. Des perspectives seront donn?es pour am?liorer la stabilit? et le pouvoir de r?solution en AFM.

Author: Polesel-J

Publisher: Omniscriptum

Publication Date: Feb 28, 2018

Number of Pages: 260 pages

Binding: Paperback or Softback

ISBN-10: 6131559546

ISBN-13: 9786131559549